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VDA19標(biāo)準(zhǔn)顆粒掃描儀
MicroQuick顆粒掃描儀符合VDA19標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試需要,能夠快速掃描零部件表面殘留的顆粒污染物,被廣泛應(yīng)用于清洗工藝中的清潔度測(cè)試。
MicroQuick 馬上詢價(jià)
VDA19標(biāo)準(zhǔn)顆粒圖像分析儀
MicroQuick顆粒圖像分析儀符合VDA19標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試需要,能夠快速掃描零部件表面殘留的顆粒污染物,被廣泛應(yīng)用于清洗工藝中的清潔度測(cè)試。
MicroQuick 馬上詢價(jià)
顆粒圖像分析儀
RJL顆粒圖像分析儀可用于分析25微米以上的顆粒殘留物,適合于汽車零部件的清潔檢測(cè),符合ISO 16232,以及VDA 19的測(cè)試要求。
Mircoquick 馬上詢價(jià)
VDA19粉塵掃描儀
MicroQuick粉塵掃描儀符合VDA19標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試需要,可用于檢測(cè)粉塵、顆粒等污染物。
MicroQuick 馬上詢價(jià)